Sector buffer test 扇区缓存测试--这项测试用于检查硬盘驱动器的内部数据总线, 总线上的总线驱动器部件, ATA接口控制器的内部总线, 以及扇区缓存区域 buffer RAM MC. 测试算法的细节在2.5.4 "Controller test 控制器测试模式"中描述. 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时对扇区写入和读出的代码也会含入结果清单中.
例如:
Code written:0000000000000000 写入代码为 :000000000000000
Code read: 0000000011111111 读出代码为 :000000001111111
注意! 老型号的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盘驱动器与ATA标准有些不兼容. 在这种硬盘驱动器进行扇区缓存测试会报告错误.
Recalibration test 磁头重新较准测试--当执行这项测试时, 会执行标准ATA命令10H(重校准磁头)--(就是磁头定位零磁道 --译者注). 在测试结束后, 如果已经检测到一个错误, 屏幕上会显示FAIL(失败)消息, 同时状态寄存器的值和错误寄存器的值会被写到测试结果清单中.
Format check 格式化检查--这项测试用低级格式化来检查IDE硬盘驱动器. 当测试运行时, 测试的进度百分比DONE %, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上. 状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断格式化检查中发现的错误的原因. 测试结束会创建一张检测到的错误列表. 表中每一行的信息包括与检测到的错误有关的柱面及磁头号,检测到错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在格式化检查之后进行的缺陷重设过程.
Random reading 随机读取--这项测试用于检查磁头定位系统. 测试运行时, 柱面号会随机的从0柱面到最大柱面这个范围之间随机的选取. 磁头号则循环选取. 磁头定位过程进行的次数等于硬盘驱动器的柱面总数. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数会显示在状态栏上. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表, 类似于格式化检查过程建立的列表.这张表最多不超过50行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇区定址模式下, 扇区将从LBA 0扇区到LBA最大扇区号之间的范围随机的选取. 磁头定位过程进行的次数等于1000. 包含在错误列表中的是BAD坏扇区的LBA扇区号而不是BAD坏扇区的柱面,磁头,扇区号. 缺陷扇区的相关数据可用于在随机读取检查之后进行的缺陷重设过程.
Surface scanning 表面扫描-- 这项测试用于逐个扇区的扫描硬盘驱动器扇区数据格式中的扇区数据字段(一般IDE硬盘驱动器的每个扇区上的数据可划分为扇区地址ID字段和扇区数据字段两个部分, 其中扇区数据字段一般为512字节用于存放用户数据, 再加4个字节的用户数据CRC校验码用于保证数据完整性 --译者注). 在测试时, 测试代码6DB6H会写到磁道上的每一个扇区上, 随后再读出来, 比较写入与读出的信息. 如果在综合测试的设置选项中关闭了写入, 则只进行读取而不进行数据比较. 在比较写入与读出的代码时, 如果发现不匹配, 那么就会在测试结果清单中写入错误码FFH. 当测试运行时, 当前活动的磁头号, 当前活动的柱面号以及当前已经检测到的错误数目会显示在状态栏上.状态寄存器和错误寄存器LED指示灯的状态可以用来判断表面扫描检查中发现的错误的原因. 等测试结束, 会建立一张检测错误列表,表中每一行的信息包括与检测到的错误相关的柱面及磁头号,检测到这个错误的时刻的状态寄存器的值和错误寄存器的值. 这张表最多不超过150行. 检测到的错误总数会列在测试结果清单中错误列表的后面. 缺陷扇区的相关数据可用于在表面扫描检查之后进行的缺陷重设过程.
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